《电子技术应用》
您所在的位置:北京幸运28 > 测试测量 > 业界动态 > 思达科技推出晶圆级光学器件老化测试系统

思达科技推出晶圆级光学器件老化测试系统

2020-11-17
来源:半导体行业观察

  半导体测试领导厂商思达科技,今天宣布推出晶圆级光学器件测试解决方案——思达阿波罗Apollo WLBI。这款新系统是通过包括传统的电子量测,加上光学监控的高度平行量测能力和替换测试时间,满足5G光学器件的晶圆级老化测试需求。

微信图片_20201117112615.png

  思达阿波罗Apollo WLBI 全方位测试解决方案

  思达阿波罗Apollo WLBI是先进集成的全方位测试解决方案,整套设备包含订制的模块化Apollo WLBI Per-pin SMU测试系统、Magic A200e探针台和垂直探针卡。Apollo WLBI可以从测试通道数量、电压、电流位准、静态或动态设定等等进行配置。由于每个Per-pin SMU有超过6000个通道,电压和电流范围不同,此系统可对每个通道进行寻源和监控,以确定被测器件随时间推移是通过或是失败。

微信图片_20201117112636.png

  思达阿波罗Apollo WLBI Per-pin SMUs测试系统

  同时,探针台设计了热夹头,在平行器件老化循环可以具有高功率和800W的散热能力,使得器件在老化过程中,能够保持在工作温度的条件。探针台还包括了一个高温和机械稳定性的探针卡转接器(>6000 pins),专利的真空密封界面,用在和测针卡进行恒定的电子和光学接触。高负载Z轴移台可在夹头上施加超过400公斤的探测力,且平面性变化小于10um,进而确保老化循环中良好的探测接触。

微信图片_20201117112716.png

  高针数探针卡界面

微信图片_20201117112735.png微信图片_20201117112735.png

  800W高耗散热夹头

  思达科技执行长刘俊良博士說,“思达阿波罗Apollo WLBI是先进的集成测试解决方案,支持行业客户在5G光学器件的测试需求。用户也可以通过射手座Sagittarius系列的测试平台,以较低的成本来管理整个测试程序。”

 


本站内容除特别声明的原创文章之外,转载内容只为传递更多信息,并不代表本网站赞同其观点。转载的所有的文章、图片、音/视频文件等资料的版权归版权所有权人所有。本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如涉及作品内容、版权和其它问题,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以便迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。联系电话:010-82306116;邮箱:aet@youngstkd.com。
任我赢机器人 欢乐生肖 彩票高賠率好平台 广西快3计划 秒速快3 海南4+1 极速快乐十分 微信pk10机器人漏洞 澳洲幸运8 广西快3计划